1. Advances in communication, network, and computing :
پدیدآورنده : Vinu V. Das, Janahanlal Stephen (eds.).
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Computer networks -- Congresses.,Data mining -- Congresses.,Image processing -- Digital techniques -- Congresses.
2. Algorithms, Software and Hardware of Parallel Computers
پدیدآورنده : edited by Jozef Mikloško, Vadim Evgenich Kotov.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Computer science.,Software engineering.
رده :
QA76
.
6
E358
1984
3. Analog Circuit Design
پدیدآورنده : edited by Rudy J. Plassche, Willy M. C. Sansen, Johan H. Huijsing.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Computer engineering.,Engineering.
4. Analog IC Reliability in Nanometer CMO
پدیدآورنده : / by Elie Maricau, Georges Gielen
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Engineering,Electronics,Systems engineering,Electronic books
رده :
E-BOOK
5. Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
پدیدآورنده : \ Elie Maricau, Georges Gielen
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary,نیمه هادیهای اکسید فلزی مکمل,a04,a04,Linear integrated circuits -- Reliability.,مدارهای مجتمع خطی -- اطمینانپذیری
رده :
E-Book
,
6. Analog IC reliability in nanometer CMOS
پدیدآورنده : Elie Maricau, Georges Gielen
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Linear integrated circuits-- Reliability,Metal oxide semiconductors, Complementary
رده :
TK7874
.
M37
2013
7. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Integrated circuits ; Ultra large scale integration. ; Finite element method. ; Reliability (Engineering) ;
8. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدیدآورنده : Cher Ming Tan ... ]et al.[.
کتابخانه: (کرمان)
موضوع : Integrated circuits--Ultra large scale integration,Finite element method,Reliability )Engineering(
رده :
TK
7874
.
76
.
A67
2011
9. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدیدآورنده : / Cher Ming Tan ... [et al.]
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Integrated circuits, Ultra large scale integration,Finite element method,Reliability (Engineering)
رده :
E-BOOK
10. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدیدآورنده : Cher Ming Tan ... ]et al.[
موضوع : ، Integrated circuits, Ultra large scale integration,، Finite element method,، Reliability )Engineering(
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
11. Bridging the Gap Between Technological Advancement and Manufacturability:
پدیدآورنده : Kim, Yun Soung
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع :
12. Business data communications
پدیدآورنده : Manish Agrawal
کتابخانه: کتابخانه و مرکز اطلاع رسانی آیت الله ایمانی دانشگاه سلمان فارسی (فارس)
موضوع : Business enterprises, Computer networks,Computer networks,Data transmission systems,Information technology, Management
رده :
HF
5548
,.
2
.
A35B8
2011
13. CMOS RF circuit design for reliability and variability
پدیدآورنده : / Jiann-Shiun Yuan
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Radio frequency integrated circuits--Design and construction,Metal oxide semiconductors, Complementary--Design and construction
رده :
TK7874
.
78
.
Y88
2016
14. CMOS test and evaluation :
پدیدآورنده : Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Electronics.,Engineering.,System safety.,Systems engineering.,Circuits and Systems.,Electronics and Microelectronics, Instrumentation.,Quality Control, Reliability, Safety and Risk.,Semiconductors.
رده :
TK7874
15. Circuit design for reliability /
پدیدآورنده : Ricardo Reis, Yu Cao, Gilson Wirth, editors
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Design and construction.,Integrated circuits-- Reliability.
رده :
TK7874
16. Circuit design for reliability
پدیدآورنده : / Ricardo Reis, Yu Cao, Gilson Wirth, editors
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Integrated circuits--Design and construction,Integrated circuits--Reliability
رده :
TK7874
.
C55
2015
17. DIGITAL TELEPHONY AND NETWORK INTEGRATION.
پدیدآورنده : BERNHARD E KEISER
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع :
رده :
TK6421
.
B476
1986
18. Deep-Submicron CMOS ICs :
پدیدآورنده : by H.J.M. Veendrick.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Computer engineering.,Engineering.,Systems engineering.
رده :
TK7874
.
B945
2000
19. Deep-submicron CMOS-ICs :
پدیدآورنده : Harry Veendrick.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Application-specific integrated circuits.,Metal oxide semiconductors, Complementary.,Application-specific integrated circuits.,Metal oxide semiconductors, Complementary.
رده :
TK7871
.
99
.
M44
V44
1998
20. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertaint
پدیدآورنده : / by Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Engineering,Computer hardware,Computer science,Logic design,Operating systems (Computers),Algebra, Data processing,Systems engineering,Electronic books
رده :
E-BOOK